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【发明公布】一种全差分对称型RRAM阵列结构_北京信息科技大学_202311264253.5 

申请/专利权人:北京信息科技大学

申请日:2023-09-27

公开(公告)日:2023-12-19

公开(公告)号:CN117253517A

主分类号:G11C13/00

分类号:G11C13/00;G11C5/14

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2023.12.19#公开

摘要:一种全差分对称型RRAM阵列结构,所述RRAM阵列结构包括4T4R单元、MOS管,RRAM单元,所述MOS管与RRAM单元相连组成1T1R单元;两个所述1T1R单元组成一个2T2R单元,两个所述2T2R单元组成一个4T4R单元,多个4T4R单元并联形成4T4R阵列,每行4T4R单元上端加BLup电压,下端加BLdn电压,mos管栅极接WL电压控制开启,两个mos管的交界处连接差分SL端,4T4R单元的四个RRAM电导值对称相等。可以在实现全差分对称型RRAM阵列的情况下有效减少了SL电压波动带来的干扰,这种以4T4R为基本单元的全差分对称阵列,可以基本杜绝2T2R由于SL电压波动带来的误差影响。

主权项:1.一种全差分对称型RRAM阵列结构,其特征在于,所述RRAM阵列结构包括4T4R单元、MOS管,RRAM单元,所述MOS管与RRAM单元相连组成1T1R单元;两个所述1T1R单元组成一个2T2R单元,两个所述2T2R单元组成一个4T4R单元,多个4T4R单元并联形成4T4R阵列,每行4T4R单元上端加BLup电压,下端加BLdn电压,mos管栅极接WL电压控制开启,两个mos管的交界处连接差分SL端,4T4R单元的四个RRAM电导值对称相等。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京信息科技大学 一种全差分对称型RRAM阵列结构

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