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【发明公布】一种基于极化特征的箔条干扰检测方法_湖南力研光电科技有限公司_202311805869.9 

申请/专利权人:湖南力研光电科技有限公司

申请日:2023-12-26

公开(公告)日:2024-01-26

公开(公告)号:CN117452342A

主分类号:G01S7/02

分类号:G01S7/02;G06F18/22

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.02.13#实质审查的生效;2024.01.26#公开

摘要:本发明公开了一种基于极化特征的箔条干扰检测方法。该基于极化特征的箔条干扰检测方法,包括以下步骤:获取历史极化数据;计算回波干扰分数,检测箔条干扰。本发明通过获取历史时间段内各种类型待测箔条反射的回波信号的历史极化数据,然后获取预设时间段内对应的极化数据,接着结合历史极化数据计算箔条无干扰指数,再结合参考箔条无干扰指数判断箔条是否存在干扰,如果没有则继续获取下一预设时间段的极化数据,否则计算反射的回波信号中各极化分量的能量比数据,最后结合对应的参考能量比数据计算回波干扰分数以检测待测箔条干扰程度,达到了提高箔条干扰检测效率的效果,解决了现有技术中存在箔条干扰检测效率低的问题。

主权项:1.一种基于极化特征的箔条干扰检测方法,用于服务器,其特征在于,包括以下步骤:获取历史时间段内各种类型待测箔条反射的回波信号的历史极化数据,所述历史极化数据用于描述各种类型待测箔条在不存在干扰时反射的回波信号的参考极化特征,所述各种类型待测箔条指的是不同几何形状或物理特性的待测箔条;获取预设时间段内各种类型待测箔条反射的回波信号的极化数据,根据极化数据计算回波干扰分数,通过回波干扰分数检测各种类型待测箔条受干扰的情况,所述回波干扰分数用于描述预设时间段内各种类型待测箔条回波信号的干扰情况;所述回波干扰分数的具体计算过程如下:根据获取的预设时间段内各种类型待测箔条反射的回波信号,由极化散射矩阵获取对应的极化数据;结合历史极化数据计算箔条无干扰指数,所述箔条无干扰指数用于描述该预设时间段内各种类型待测箔条不存在干扰的可能性;获取历史极化数据对应的参考箔条无干扰指数,判断计算的箔条无干扰指数是否超过参考箔条无干扰指数范围;如果没有超过,则继续获取下一预设时间段内各种类型待测箔条的极化数据;否则,根据各种类型待测箔条反射的回波信号的极化散射矩阵,计算对应的回波干扰分数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 湖南力研光电科技有限公司 一种基于极化特征的箔条干扰检测方法

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