申请/专利权人：中国科学院微电子研究所

申请日：2023-11-08

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN117523632A

主分类号：G06V40/16

分类号：G06V40/16;G06V10/74;G06V10/20;G16H50/30;G06T7/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要：本申请实施例公开了一种面瘫等级分析方法和相关装置，先对待分析人脸图像的各个部分所表征出的面瘫等级进行分析，最后在基于各个图像部分对应的面瘫等级来确定待分析人脸图像的整体面瘫等级。先对包括目标人脸的待分析人脸图像进行分割，得到多个子人脸图像，然后将多个子人脸图像分别作为目标子人脸图像，确定目标子人脸图像对应面瘫等级，面瘫等级为通过目标子人脸图像所表征的目标人脸对象的面瘫等级，根据多个子人脸图像分别对应的面瘫等级来确定目标人脸对应的面瘫等级，实现了对待分析人脸图像的细粒度面瘫等级分析，充分参考待分析人脸图像的各个图像细节对于整体人脸面瘫等级的表征效果，从而实现对待分析人脸图像的自动化精准面瘫分析。

主权项：1.一种面瘫等级分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取待分析人脸图像，所述待分析人脸图像中包括目标人脸；对所述待分析人脸图像进行分割，得到多个子人脸图像；将所述多个子人脸图像分别作为目标子人脸图像，根据所述目标子人脸图像，确定所述目标子人脸图像对应的面瘫等级，所述目标子人脸图像对应的面瘫等级为通过所述目标子人脸图像所表征的所述目标人脸对应的面瘫等级；根据所述多个子人脸图像分别对应的面瘫等级，确定所述目标人脸对应的面瘫等级。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院微电子研究所 一种面瘫等级分析方法和相关装置

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