申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司

申请日：2024-01-08

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN117524915A

主分类号：H01L21/66

分类号：H01L21/66;G06F30/398;G06F30/394

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要：本申请涉及一种网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备。该方法包括：获取待检测的网格状绕线结构；其中，网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，第一方向为与电信号传输方向相同的方向；设置辅助条纹，并获取与辅助条纹相交的第一走线数量；基于第一走线数量，确定网格状绕线结构的走线薄弱点。采用本方法能够解决现有技术中走线薄弱点检测效率较低的问题。

主权项：1.一种网格状绕线薄弱点检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测的网格状绕线结构；其中，所述网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，所述第一方向为与电信号传输方向相同的方向；设置辅助条纹，并获取与所述辅助条纹相交的第一走线数量；基于所述第一走线数量，确定所述网格状绕线结构的走线薄弱点。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备

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