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【发明公布】用于显示装置的光晕测量方法及系统_TCL华星光电技术有限公司_202310990704.7 

申请/专利权人:TCL华星光电技术有限公司

申请日:2023-08-07

公开(公告)日:2024-02-06

公开(公告)号:CN117524024A

主分类号:G09G3/00

分类号:G09G3/00;G06T5/70;G06T7/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要:本申请公开了一种用于显示装置的光晕测量方法及系统。用于显示装置的光晕测量方法包括:分别获取第一曝光时长下拍摄的被测显示器的第一图像,以及第二曝光时长下拍摄的被测显示器的第二图像,从第一图像上获取亮区亮度值,从第二图像上获取暗区亮度值和光晕区亮度值,基于亮区亮度值、暗区亮度值和光晕区亮度值,共同确定光晕区的光晕值。该方法能够通过多组曝光来分别获取亮区和光晕区的亮度信息,从而基于在亮区成像最亮的情况下获取到的亮区的图像数据,以及在光晕区成像最亮的情况下获取到的光晕区和暗区的图像数据,来计算光晕值,进而避免光晕区亮度信息丢失的情况,改善光晕计算结果误差大的问题。

主权项:1.一种用于显示装置的光晕测量方法,其特征在于,包括:获取第一曝光时长下拍摄的被测显示器的第一图像,所述第一图像包括预设的测试图形,所述第一曝光时长为所述测试图形的亮度值达到第一阈值时,相机对应的曝光时长;获取所述第一图像上的亮区亮度值,所述亮区亮度值为所述测试图形的亮度值;获取第二曝光时长下拍摄的所述被测显示器的第二图像,所述第二图像包括所述测试图形,所述第二曝光时长为所述测试图形周围光晕区的亮度值达到第二阈值时,相机对应的曝光时长;获取所述第二图像上的暗区亮度值和光晕区亮度值,所述暗区亮度值为所述第二图像上除所述测试图形对应的区域和所述光晕区以外的其余区域的亮度值;基于所述亮区亮度值、所述暗区亮度值和所述光晕区亮度值,确定所述光晕区的光晕值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: TCL华星光电技术有限公司 用于显示装置的光晕测量方法及系统

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