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【发明公布】显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质_TCL华星光电技术有限公司_202310632732.1 

申请/专利权人:TCL华星光电技术有限公司

申请日:2023-05-31

公开(公告)日:2024-02-06

公开(公告)号:CN117524017A

主分类号:G09G3/00

分类号:G09G3/00;G09G3/32;G09G3/34

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要:本申请实施例公开了一种显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质,该方法包括拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像;计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L亮、第二测量区域的灰度均值L暗以及第三测量区域的灰度均值L光晕,根据所述第一测量区域的灰度均值L亮、所述第二测量区域的灰度均值L暗以及所述第三测量区域的灰度均值L光晕,通过如下公式计算光晕值:其中,halo表示光晕值。本申请旨在可以快速确定显示装置的光晕值,从而可以用于评价显示装置的显示性能,自动化程度高。

主权项:1.一种显示装置的光晕测量方法,其特征在于,包括:拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像,所述测试图像包括第一图案区和位于第一图案区周侧的第二图案区,所述第一图案区的灰度值大于所述第二图案区的灰度值;计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L亮、第二测量区域的灰度均值L暗以及第三测量区域的灰度均值L光晕,其中,所述第一测量区域,所述第二测量区域以及所述第三测量区域的面积相同,所述第一测量区域位于所述第一图案区内,所述第二测量区域位于所述第二图案区内并远离所述第一图案区的边界,所述第三测量区域位于所述第二图案区内并靠近所述第一图案区的边界;根据所述第一测量区域的灰度均值L亮、所述第二测量区域的灰度均值L暗以及所述第三测量区域的灰度均值L光晕,通过如下公式计算光晕值: 其中,halo表示光晕值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: TCL华星光电技术有限公司 显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质

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