申请/专利权人：北京环境特性研究所

申请日：2023-11-24

公开（公告）日：2024-02-23

公开（公告）号：CN117590088A

主分类号：G01R29/08

分类号：G01R29/08

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.12#实质审查的生效;2024.02.23#公开

摘要：本发明涉及一种用于紧缩场俯仰测试的等效方法，涉及电磁测量技术领域，包括以下步骤：根据待测目标所需的俯仰角度，结合焦距及馈源1dB的波束宽度，调整馈源的俯仰角度；根据待测目标所需的俯仰角度，结合理想紧缩场中待测目标两个端点的路程差，计算馈源在三维空间中的位置，以保证偏焦后的电磁波通过反射面的反射后到达待测目标两端点的路程差不变；固定馈源的仰角及其位置，对待测目标进行等效俯仰测试，将该测试结果与常规俯仰测试结果进行比较，以验证等效方法的准确性，本发明具有实现基于泡沫支架的紧缩场等效俯仰测试，避免刀形金属支架使用的优点。

主权项：1.一种用于紧缩场俯仰测试的等效方法，其特征在于：包括以下步骤：Ⅰ.根据待测目标3所需的俯仰角度，结合焦距及馈源11dB的波束宽度，调整馈源1的俯仰角度；Ⅱ.根据待测目标3所需的俯仰角度，结合理想紧缩场中待测目标3两个端点的路程差，计算馈源1在三维空间中的位置，以保证偏焦后的电磁波6通过反射面2的反射后到达待测目标3两端点的路程差不变；Ⅲ.固定馈源1的仰角及其位置，对待测目标3进行等效俯仰测试，将该测试结果与常规俯仰测试结果进行比较，以验证等效方法的准确性。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京环境特性研究所 一种用于紧缩场俯仰测试的等效方法

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