申请/专利权人：南京镭芯光电有限公司

申请日：2023-11-23

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117639923A

主分类号：H04B10/079

分类号：H04B10/079;H04B10/077;G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：本发明公开了一种测试EML眼图测试方法，涉及芯片封装测试技术领域，该测试方法包括以下步骤：S1、确定眼图测试环境，并利用示波器将光信号转换为电信号与误码仪信号进行比较，判断眼图形态质量；S2、分别对EML芯片的DC性能测试及高频性能进行测试；S3、根据测试结果设计EML芯片的封装结构，并将EML芯片封装成COS形式。本发明提供的EML眼图测试方法能够通过误码仪和示波器等通信连接以及控温系统与COS组合成一套稳定的眼图测试流程，确保测试环境不会随机波动，从而保证同一批次的不同激光器芯片测试环境相同，因此可排除测试环境因素对激光器芯片的光电性能测试过程的影响。

主权项：1.一种测试EML眼图测试方法，其特征在于，该测试方法包括以下步骤：S1、确定眼图测试环境，并利用示波器将光信号转换为电信号与误码仪信号进行比较，判断眼图形态质量；S2、分别对EML芯片的DC性能测试及高频性能进行测试；S3、根据测试结果设计EML芯片的封装结构，并将EML芯片封装成COS形式。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京镭芯光电有限公司 一种测试EML眼图测试方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD