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【发明授权】用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法_北京汽车股份有限公司_202010989955.X 

申请/专利权人:北京汽车股份有限公司

申请日:2020-09-18

公开(公告)日:2024-03-05

公开(公告)号:CN112255553B

主分类号:G01R31/382

分类号:G01R31/382;G01R31/392

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.05#授权;2021.02.09#实质审查的生效;2021.01.22#公开

摘要:本申请提出一种用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法,具体方案为:通过第一计时器在第一触发器采集的上升沿的触发下开始计时生成第一计数值,第二计时器在第二触发器采集的下降沿的触发下开始计时生成第二计数值,比较器在第一计数值和第二计数值一致时输出目标标志位并发送给第一输出开关和第二输出开关,以使第一输出开关和第二输出开关在接收到目标标志位时分别输出第一计数值和第二计数值至处理单元,处理单元根据第一计数值和第一计时器的晶振频率计算得到第一时间,根据第二计数值和第二计时器的晶振频率计算得到第二时间,进而计算第二时间与第一时间的差值得到电池分子衰变时间,能够提高电池分子衰变检测的精度。

主权项:1.一种用于检测电池分子衰变的芯片,其特征在于,所述芯片包括:第一触发器、第二触发器、第一计时器、第二计时器、比较器、第一输出开关、第二输出开关和处理单元,所述第一计时器的晶振频率大于所述第二计时器的晶振频率;其中,所述第一触发器,用于采集输入信号的上升沿;所述第二触发器,用于采集所述输入信号的下降沿;所述第一计时器,用于在所述第一触发器采集的所述上升沿的触发下开始计数,生成第一计数值;所述第二计时器,用于在所述第二触发器采集的所述下降沿的触发下开始计数,生成第二计数值;所述比较器,用于比较第一计数值和第二计数值,并在所述第一计数值和所述第二计数值一致时,输出目标标志位,并将所述目标标志位发送至所述第一输出开关和所述第二输出开关;所述第一输出开关与所述第一计时器连接,并在接收到所述目标标志位时,输出所述第一计数值至所述处理单元;所述第二输出开关与所述第二计时器连接,并在接收到所述目标标志位时,输出所述第二计数值至所述处理单元;所述处理单元,用于根据所述第一计数值和所述第一计时器的晶振频率,计算得到第一时间,以及根据所述第二计数值和所述第二计时器的晶振频率,计算得到第二时间,并计算所述第二时间与所述第一时间的差值,得到电池分子衰变时间。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京汽车股份有限公司 用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法

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