申请/专利权人：济南量子技术研究院

申请日：2021-12-30

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：CN114285568B

主分类号：H04L9/08

分类号：H04L9/08

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.08#授权;2022.04.22#实质审查的生效;2022.04.05#公开

摘要：本发明提供了一种双扫描4强度MDI‑QKD系统的密钥率获取方法及系统，根据第一扫描参数和第二扫描参数得到第三扫描参数的表达式；根据第三扫描参数的表达式以及第一扫描参数的上限和第二扫描参数的下限确定第三扫描参数的上限，根据第三扫描参数的表达式以及第一扫描参数的下限和第二扫描参数的上限确定第三扫描参数的下限；根据第三扫描参数的下限和第三扫描参数的上限确定扫描范围；根据扫描范围内的第三扫描参数计算密钥率，以所有密钥率的最小值为最终密钥率；本发明将第一扫描参数和第二扫描参数整合成一个参数，只需扫描这一个参数即可实现密钥率的计算，极大的减少了计算量，提高了计算效率。

主权项：1.一种双扫描4强度MDI-QKD系统的密钥率获取方法，其特征在于：包括以下过程：根据第一扫描参数和第二扫描参数得到第三扫描参数的表达式；根据第三扫描参数的表达式以及第一扫描参数的上限和第二扫描参数的下限确定第三扫描参数的上限，根据第三扫描参数的表达式以及第一扫描参数的下限和第二扫描参数的上限确定第三扫描参数的下限；具体的，所述第三扫描参数的上限为：第一扫描参数的上限与0.5倍的第二扫描参数的下限的差值；第三扫描参数的下限为：第一扫描参数的下限与0.5倍的第二扫描参数的上限的差值；根据第三扫描参数的下限和第三扫描参数的上限确定扫描范围；根据扫描范围内的第三扫描参数计算密钥率，以所有密钥率的最小值为最终密钥率，具体的，根据第三扫描参数，得到相位翻转误码率的期望值上限和单光子计数率的期望值下限，根据相位翻转误码率的期望值上限和单光子计数率的期望值下限计算密钥率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 济南量子技术研究院 双扫描4强度MDI-QKD系统的密钥率获取方法及系统

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