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【发明公布】路由器DDR老化测试方法及系统_深圳市广联智通科技有限公司_202311709987.X 

申请/专利权人:深圳市广联智通科技有限公司

申请日:2023-12-13

公开(公告)日:2024-03-15

公开(公告)号:CN117714355A

主分类号:H04L43/50

分类号:H04L43/50;H04L43/04;H04L41/0246

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要:本发明公开了一种路由器DDR老化测试方法及系统,路由器DDR老化测试方法包括以下步骤:老化测试服务器通过交换机与多台待测路由器连接;通过老化测试服务器修改待测路由器的IP,以使多台待测路由器对应绑定不同的IP;老化测试服务器执行多线程任务将老化测试程序分别拷贝至多台待测路由器,并控制各个待测路由器运行老化测试程序进行老化测试;老化测试服务器执行多线程任务分别查询各个待测路由器的状态信息,并将查询到的各个待测路由器的状态信息显示于老化测试服务器WEb端。本发明解决了传统老化测试方法存在的测试效率低、测试异常需要人眼判断、测试数据的完整性和准确性低以及无法实时监控被测路由CPU使用情况的问题。

主权项:1.一种路由器DDR老化测试方法,其应用于路由器DDR老化测试系统,其特征在于,路由器DDR老化测试系统包括有老化测试服务器和交换机,所述路由器DDR老化测试方法包括有以下步骤:S10、老化测试服务器通过交换机与多台待测路由器建立通讯连接;S20、通过老化测试服务器修改待测路由器的IP,以使多台待测路由器对应绑定不同的IP;S30、老化测试服务器执行多线程任务将老化测试程序分别拷贝至多台待测路由器,并控制各个待测路由器运行老化测试程序执行DDR老化测试流程;S40、老化测试服务器执行多线程任务分别查询各个待测路由器的状态信息,并将查询到的各个待测路由器的状态信息显示于老化测试服务器WEb端,所述待测路由器的状态信息包括待测路由器的CPU使用情况、老化测试程序执行情况和上电时间。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市广联智通科技有限公司 路由器DDR老化测试方法及系统

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