申请/专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司

申请日：2023-12-19

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117706334A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R31/52;G01R1/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明公开了一种应用于ICT的开路或短路测试方法、系统及平台，通过获取第一测试点数据，同时并联处理第一集合点数据；判定所述第一测试点数据与所述第一集合点数据之间开路或短路关系，并生成与待测试开短路测试点相对应的第二集合点数据；获取第二测试点数据，并二等分处理除所述第二测试点数据外的第二集合点数据；判定所述第二测试点数据与所述第二集合点数据之间开路或短路关系，并生成与待测试开短路测试点相对应的第三集合点数据；以及相应的系统平台，可提高ICT开路或短路测试效率。即通过粗筛将不可能与其他测试点有短路情况的测试点排除掉，精简测试点集合后，为测试处理省去大量无效计算，缩短了测试时长提高了测试效率。

主权项：1.一种应用于ICT的开路或短路测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤：获取第一测试点数据，同时并联处理第一集合点数据；其中，所述第一测试点数据为待测试开短路测试点中的任一测试点；第一集合点数据为除任一测试点外的测试点；判定所述第一测试点数据与所述第一集合点数据之间开路或短路关系，并生成与待测试开短路测试点相对应的第二集合点数据；其中，所述第二集合点数据为可疑测试点集合；获取第二测试点数据，并二等分处理除所述第二测试点数据外的第二集合点数据；其中，所述第二测试点数据为所述第二集合点数据中的任一测试点；判定所述第二测试点数据与所述第二集合点数据之间开路或短路关系，并生成与待测试开短路测试点相对应的第三集合点数据；其中，所述第三集合点数据为短路测试点集合。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市微特精密科技股份有限公司 一种应用于ICT的开路或短路测试方法、系统及平台

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