申请/专利权人：安徽大学

申请日：2024-01-15

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117572288B

主分类号：G01R31/52

分类号：G01R31/52

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2024.03.08#实质审查的生效;2024.02.20#公开

摘要：本发明提供一种短路故障检测电路与检测方法，检测电路包括：差分信号采集单元，对栅极电阻上的电压信号进行差分采样；短路状态判断单元，其输入端与差分信号采集单元的输出端相连接，用于将检测信号与参考电压进行比较，超过设定阈值时输出故障信号；短路信号保持单元，其输入端与短路状态判断单元的输出端相连，用于对故障信号的保持并传输短路信号给短路处理单元；短路处理单元，其输入端与所述故障保持单元的输出端相连，用于故障信号的处理，判定短路工况。本发明解决了传统SiCMOSFET在高压端口采集故障信号导致的噪声干扰、信号失真以及绝缘耐压和安全等问题，具有检测速度快、精准度高、可靠性高的优点。

主权项：1.一种短路故障检测电路，其特征在于，包括：差分信号采集单元、短路状态判断单元、短路信号保持单元、短路处理单元和主驱动电路；所述差分信号采集单元用于对晶体管栅极上的电压信号进行差分采集，并将差分采集信号输入至所述短路状态判断单元；所述差分信号采集单元包括驱动电阻、第一差分信号采集电路和第二差分信号采集电路；所述第一差分信号采集电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第一运算放大器；所述第一运算放大器的正输入端与所述第二电阻的一端相连，所述第二电阻的另一端与所述第一电阻的一端相连，所述第一电阻的另一端接地，所述第一电阻的一端还与所述驱动电阻的一端相连；所述第一运算放大器的负输入端与所述第三电阻的一端相连，所述第三电阻的另一端与所述第一运算放大器的输出端相连，所述第三电阻的一端还连接所述驱动电阻的另一端，所述第一运算放大器的输出端输出第一差分采集信号；所述第二差分信号采集电路包括；第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二运算放大器；所述第二运算放大器的正输入端与所述第五电阻的一端相连，所述第五电阻的另一端与所述第四电阻的一端相连，所述第四电阻的另一端接地，所述第四电阻的一端还与所述驱动电阻的一端相连；所述第二运算放大器的负输入端与所述第六电阻的一端相连，所述第六电阻的另一端与所述第二运算放大器的输出端相连，所述第六电阻的一端还连接所述驱动电阻的另一端，所述第二运算放大器的输出端输出第二差分采集信号；所述短路状态判断单元用于将差分采集信号分别与不同的参考电压进行比较，得到不同的比较结果，并将所述比较结果输入至所述短路信号保持单元；所述短路信号保持单元用于保持所述比较结果，并将所述比较结果输入至所述短路处理单元；所述短路处理单元用于根据所述比较结果判断所述晶体管的短路类型并对故障信号进行处理。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 安徽大学 一种短路故障检测电路与检测方法

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