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【发明公布】缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质_深圳思谋信息科技有限公司_202311520045.7 

申请/专利权人:深圳思谋信息科技有限公司

申请日:2023-11-14

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117726579A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/73;G06V10/75

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要:本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。所述方法包括:从包括至少两个标签区域的目标检测图像中确定当前标签区域,对当前标签区域的图像的待检测二值化图像与标准图像中和当前标签区域的内容匹配的区域图像的标准二值化图像匹配得偏移信息,将基于偏移信息和当前标签区域的位姿信息对待检测二值化图像变换得的目标二值化图像和标准二值化图像差分得当前标签区域的差分图像,返回确定当前标签区域的步骤至各标签区域都有对应的差分图像;将各差分图像组合得目标检测图像对应的目标差分图像,基于将目标差分图像输入标签缺陷检测模型得的缺陷检测信息确定目标检测图像的缺陷检测结果。采用本方法能减小缺陷漏检率。

主权项:1.一种缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取目标检测图像,所述目标检测图像包括至少两个标签区域,所述标签区域是基于所述目标检测图像的图像内容划分得到的;从所述目标检测图像中的各标签区域中确定当前标签区域,确定所述当前标签区域的图像对应的待检测二值化图像,获取标准二值化图像,对所述待检测二值化图像与所述标准二值化图像进行匹配,得到偏移信息,基于所述偏移信息和所述当前标签区域的位姿信息,对所述待检测二值化图像进行变换,得到目标二值化图像;所述标准二值化图像是所述目标检测图像对应的标准图像中,与所述当前标签区域的内容相匹配的区域图像对应的二值化图像;将所述目标二值化图像和所述标准二值化图像进行差分,得到所述当前标签区域对应的差分图像,返回所述从所述目标检测图像中的各标签区域中确定当前标签区域的步骤,直至所述目标检测图像中的各标签区域都有对应的差分图像;将各标签区域对应的差分图像进行组合,得到所述目标检测图像对应的目标差分图像,将所述目标差分图像输入已训练的标签缺陷检测模型中,得到所述目标检测图像的缺陷检测信息,基于所述缺陷检测信息确定所述目标检测图像的缺陷检测结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳思谋信息科技有限公司 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质

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