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【发明公布】一种偏光片保护膜胶粘剂析出测定方法_深圳市盛波光电科技有限公司_202311691461.3 

申请/专利权人:深圳市盛波光电科技有限公司

申请日:2023-12-11

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117723270A

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要:本发明提供了一种偏光片保护膜胶粘剂析出测定方法,包括如下步骤:准备贴好偏光片的载体玻璃样本;将载体玻璃样本放置在剥离测试台上,采用辅助胶带撕开偏光片保护膜;以设定速度牵引辅助胶带,剥离偏光片保护膜,中途停顿至少一次,停顿时间为3‑5s,得到覆盖偏光片基板的载体样本;取两块载体玻璃样本叠放,使上下片偏光片直交至黑态,将待测样本重叠在直交的两片偏光片之上,在黑暗环境,打开强光手电倾斜照射测定样本的表面,从强光手电的反射角度观察强光手电照射在测定样品的光圈、光晕位置,观察确认是否有明暗相间的视觉差异,如有则判定产品有缺陷。采用本发明的技术方案,方法简单,能有效测定保护膜胶粘剂是否会析出。

主权项:1.一种偏光片保护膜胶粘剂析出测定方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤S1,准备贴好偏光片的载体玻璃样本;步骤S2,将载体玻璃样本放置在剥离测试台上,且有偏光片保护膜的一面朝上,采用辅助胶带粘覆在所述载体玻璃样本一端的偏光片保护膜上,撕开偏光片保护膜;以设定速度牵引辅助胶带,剥离偏光片保护膜,并在牵引剥离的中途停顿至少一次,停顿时间为3-5s,直至偏光片保护膜与偏光片基板完全剥离,得到覆盖偏光片基板的载体样本;步骤S3,取两块步骤S1的载体玻璃样本叠放,使上下片偏光片直交至黑态,静置在测试平台上,将步骤S2得到的覆盖偏光片基板的载体样本重叠在直交的两片偏光片之上,得到测定样本;在黑暗环境,打开强光手电倾斜照射测定样本的表面,所述强光手电与测定样本的距离不大于20cm;从强光手电的反射角度观察照射在测定样品的光圈、光晕位置,观察剥离偏光片保护膜后的样品外观,确认是否有明暗相间的视觉差异,如有,则判定产品有缺陷;如光线照射条件下表面平滑、干净,则判定产品合格。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市盛波光电科技有限公司 一种偏光片保护膜胶粘剂析出测定方法

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