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【发明公布】一种微波射频测试装置_安庆师范大学_202311201335.5 

申请/专利权人:安庆师范大学

申请日:2023-09-18

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117723874A

主分类号:G01R31/01

分类号:G01R31/01;G01R1/04

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.03.19#公开

摘要:本发明公开了一种微波射频测试装置,涉及到射频组件测试领域,包括工作平台,所述工作平台的上方设置有夹持组件,所述夹持组件包括有两个分别开设在工作平台顶面左右两侧的滑槽,每个所述滑槽的内部均滑动连接有滑块,所述滑块的部分外壁位于工作平台的上方,每个所述滑块的顶面均固定连接有夹持部,所述夹持组件的后方设置有固定组件,所述夹持组件还包括有两个分别设置两个滑槽内部的阻尼弹簧。本发明通过设置夹持组件与固定组件,通过夹持组件与固定组件内结构之间的配合,能够适用不同尺寸、形状类型的功分器,可以对不同尺寸、形状类型的功分器进行测试,通用性高,从而能够降低功分器的测试成本,适合大批量的生产测试。

主权项:1.一种微波射频测试装置,包括工作平台1,其特征在于:所述工作平台1的上方设置有夹持组件2,所述夹持组件2包括有两个分别开设在工作平台1顶面左右两侧的滑槽201,每个所述滑槽201的内部均滑动连接有滑块202,所述滑块202的部分外壁位于工作平台1的上方,每个所述滑块202的顶面均固定连接有夹持部203,所述夹持组件2的后方设置有固定组件3。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 安庆师范大学 一种微波射频测试装置

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