申请/专利权人：西安交通大学

申请日：2022-05-20

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN114952415B

主分类号：B23Q17/00

分类号：B23Q17/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.09.16#实质审查的生效;2022.08.30#公开

摘要：一种双测量截面的机床主轴回转误差测量、标定结构及方法，采用双测量截面结构，以及四支位移测量传感器实现主轴回转误差的动态测量；一个测量截面为基准截面，另一个为测量截面；每个测量截面通过一个支架上固定空间成正交分布的两个位移测量传感器测量，实现单一测量截面的轴心轨迹及轮廓动态偏移量的测量，两组信号的差值为主轴的动态回转精度；利用了两个测量截面的相对测量，动态获取了主轴的回转误差，并有效抑制随机误差的产生，可实时监测机床主轴系统运行精度；本发明可实现机床主轴及回转体零件的回转精度动态测量及空间回转误差的标定。

主权项：1.一种双测量截面的机床主轴回转误差测量、标定结构，其特征在于：包括4支支位移测量传感器S1、S2、S3、S4，位移测量传感器S1、S2安装在支架B1上，位移测量传感器S3、S4安装在支架B2上；位移测量传感器S1和S2的两个轴线呈90°夹角，位移测量传感器S3和S4的两个轴线呈90°夹角；支架B1安装在固定支撑座上测量截面C1，支架B2安装在固定支撑座上测量截面C2，两个测量截面C1、C2分别位于主轴前端轴承的内侧与外侧，且两个测量截面平行；支架B1和支架B2安装在同一个支撑座上，且位移测量传感器S1与位移测量传感器S3处于平行位置，以保障测量截面初相位相同；回转部件做回转运动，位于主轴前端轴承内侧的位移测量传感器S1和S2形成一个坐标系，采集测量截面C1的轴心轨迹及截面轮廓的动态偏移量，作为测量基准信号；位于主轴前端轴承外侧的位移测量传感器S3和S4形成一个坐标系，采集测量截面C2的轴心轨迹及截面轮廓的动态偏移量，作为回转测量信号；同步测量两组测量截面轮廓的偏移信号及轴心轨迹，两组信号的差值为主轴的回转误差和轴心实际移动量，即获得主轴的动态回转精度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安交通大学 双测量截面的机床主轴回转误差测量、标定结构及方法

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