申请/专利权人：台湾中华精测科技股份有限公司

申请日：2019-10-14

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN112730925B

主分类号：G01R1/073

分类号：G01R1/073

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2021.05.21#实质审查的生效;2021.04.30#公开

摘要：本发明公开一种交错式探针卡，所述交错式探针卡包含间隔地设置的上导板与下导板及排成多列且穿过上导板与下导板的多个导电探针。每个导电探针呈长形且定义有长度方向。每个导电探针包含有底面与分别相连于底面两个边缘的两个长侧面，两个长侧面之间的距离朝远离底面的渐缩方向逐渐地缩小。于多列导电探针的相邻两列之中，其中一列导电探针是与其中另一列导电探针呈间隔地交错设置并具有彼此反向的渐缩方向，并且彼此相邻但分属于不同列导电探针的任两个长侧面之间在非平行于每列导电探针的排列方向上具有侧向间距。据此，通过导电探针的结构设计，相邻两个导电探针所需维持的预定间距是以非平行于排列方向的侧向间距来实现。

主权项：1.一种交错式探针卡，其特征在于，所述交错式探针卡包括：一上导板与一下导板，彼此间隔地设置；以及多个导电探针，各呈长形且定义有一长度方向，多个所述导电探针穿设于所述上导板与所述下导板；其中，多个所述导电探针排成多列，并且每列所述导电探针平行于一排列方向，并且每个所述导电探针包含有：一底面，平行于所述长度方向、并穿过所述上导板与所述下导板；及两个长侧面，分别相连于所述底面的两个边缘，并且两个所述长侧面皆平行于所述长度方向、且穿过所述上导板与所述下导板；其中，两个所述长侧面之间的一距离朝远离所述底面的一渐缩方向逐渐地缩小；其中，于多列所述导电探针的相邻两列之中，其中一列所述导电探针是与其中另一列所述导电探针呈间隔地交错设置并具有彼此反向的所述渐缩方向，并且彼此相邻但分属于不同列所述导电探针的任两个所述长侧面之间在非平行于所述排列方向上具有一侧向间距；其中，每个所述导电探针包含有一测试端面，并且呈间隔地交错设置的两列所述导电探针的所述测试端面是用来可分离地顶抵于一待测物的一列金属垫；其中，于呈间隔地交错设置的两列所述导电探针之中，多个所述底面之间定义有平行所述排列方向且与每个所述底面相隔等距的一中央面，并且每个所述导电探针的一顶端部落在所述中央面远离所述底面的一侧。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 台湾中华精测科技股份有限公司 交错式探针卡

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