申请/专利权人：中国计量大学

申请日：2023-05-30

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220627416U

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本实用新型公开了一种DDR测试装置，涉及DDR测试装置技术领域，包括底圆盘，底圆盘的顶部固定连接有支撑底杆，支撑底杆的中部活动连接有支撑顶杆，本实用新型提供一种DDR测试装置，通过在底固定圆环的顶部固定连接有底滚动圆轨，在底滚动圆轨的中部活动连接有滚动珠，在顶坡面圆环的顶部固定连接有安装座，顶坡面圆环的顶面为斜坡面，在的顶部活动连接有上压盖，可以将芯片放置在安装座和上压盖的中部，进行检测，在检测过程中，可以将顶坡面圆环进行转动，这样顶滚动圆轨和底滚动圆轨相对进行转动，可以更快的进行下一个芯片的检测，检测的速率提高，检测时间更短，有利于提高检测效率，解决了以往检测效率低，检测不方便的问题。

主权项：1.一种DDR测试装置，包括底圆盘（1），其特征在于：所述底圆盘（1）的顶部固定连接有支撑底杆（2），所述支撑底杆（2）的中部活动连接有支撑顶杆（8），所述支撑顶杆（8）的顶部固定连接有底固定圆环（4），所述底圆盘（1）顶部的中部固定连接有中支撑座（3），所述底固定圆环（4）的顶部固定连接有底滚动圆轨（5），所述底滚动圆轨（5）的中部活动连接有滚动珠（9），所述滚动珠（9）的顶部活动连接有顶滚动圆轨（6），所述顶滚动圆轨（6）的顶部固定连接有顶坡面圆环（7），所述顶坡面圆环（7）顶部的一侧固定连接有安装座（11），所述安装座（11）一端的顶部固定连接有连接管（12），所述连接管（12）的中部贯穿连接有连接轴（13），所述连接轴（13）的端部活动连接有上压盖（10），所述安装座（11）的中部开设有测试槽（14），所述上压盖（10）底部的中部固定连接有卡接板（16），所述上压盖（10）的端部固定连接有端部管（17），所述端部管（17）的端部活动连接有活动卡板（18），所述安装座（11）的端部固定连接有端部卡板（15）。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国计量大学 一种DDR测试装置

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