申请/专利权人：合肥硅臻芯片技术有限公司

申请日：2023-08-09

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220626515U

主分类号：G01R25/00

分类号：G01R25/00;G01J9/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本申请公开了一种基于纠缠光源的相位测量装置，包括依次连接的纠缠光源系统、MZ干涉测量系统和数据采集处理系统。通过纠缠光源系统产生纠缠光子对，采用MZ干涉测量系统和数据采集处理系统对待测器件的相位进行精密测量。首先调控MZ干涉测量系统中干涉上臂和干涉下臂的相位差使其为零，完成对输入光子的初始相对相位和两臂损耗等干扰因素的补偿，然后再对待测器件进行相位测量，减小测量误差，提高了测量精度和稳定性。此外，相对于经典相干激光MZI测量相位系统，本申请的相位测量精度可突破散粒噪声极限，且在同一测量精度要求下，本申请系统所需要的测量次数更少，提高了测量效率。

主权项：1.一种基于纠缠光源的相位测量装置，其特征在于，包括依次连接的纠缠光源系统、MZ干涉测量系统和数据采集处理系统；所述纠缠光源系统用于产生纠缠光子对并传输至MZ干涉测量系统；所述MZ干涉测量系统包括第一50:50分束器、干涉上臂、干涉下臂和第二50:50分束器，干涉上臂的两端分别连接第一50:50分束器的输出上端口和第二50:50分束器的输入上端口，干涉下臂的两端分别连接第一50:50分束器的输出下端口和第二50:50分束器的输入下端口，干涉下臂上设置相位调制器，干涉上臂上设置1×2光开关、待测器件和传输光纤，1×2光开关的输入端与干涉上臂的一端口连接，1×2光开关的一个输出端与待测器件的输入端连接、另一个输出端与传输光纤的输入端连接，待测器件的输出端和传输光纤的输出端均与干涉上臂的另一端口连接，1×2光开关用于切换干涉上臂的传输光路；所述数据采集处理系统包括第一单光子探测器、第二单光子探测器、符合计数器、反馈模块和上位机；第一单光子探测器与第二50:50分束器的输出上端连接，用于对第二分束器输出上端输出的光子进行探测和计数；第二单光子探测器与第二50:50分束器的输出下端连接，用于对第二分束器输出下端输出的光子进行探测和计数；第一单光子探测器和第二单光子探测器均与反馈模块连接，反馈模块用于对第一单光子探测器和第二单光子探测器输出的计数信号进行处理并反馈给上位机；第一50:50分束器和第二50:50分束器均与符合计数器连接，符合计数器用于对第一单光子探测器和第二单光子探测器同时探测到光子的次数进行计数；上位机与1×2光开关、相位调制器、符合计数器以及反馈模块均连接，用于控制1×2光开关对传输光路的切换并基于反馈模块输出的信号控制相位调制器对输入光子进行相位周期扫描以及基于符合计数器反馈的符合计数计算获取待测器件的相位信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥硅臻芯片技术有限公司 一种基于纠缠光源的相位测量装置

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