申请/专利权人：赫克斯冈技术中心

申请日：2023-09-07

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117739928A

主分类号：G01C15/00

分类号：G01C15/00

优先权：["20220920 EP 22196473.7"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明涉及用于光学系统的监测装置。光学检测单元包括后向反射元件，其提供反射表面和穿透表面，反射表面被配置为将测量光的第一部分后向反射为反射测量光，以提供光学检测单元的位置的确定，穿透表面被配置为透射测量光的第二部分作为透射测量光，光学检测单元还包括传感器装置，传感器装置具有传感器，传感器被配置和布置在后向反射元件后面，使得透射测量光能够被传感器检测。光学检测单元包括具有被配置为发射参考照射光的至少一个照射单元的参考组件。至少一个照射单元被布置成与后向反射元件和或传感器装置具有固定位置关系，并且参考组件被配置和布置成将参考照射光引导到传感器上。

主权项：1.一种光学检测单元20，所述光学检测单元20包括：●后向反射元件30，所述后向反射元件30提供□反射表面31，所述反射表面31被配置为将测量光的第一部分后向反射为反射测量光5a，以提供对所述光学检测单元20的位置的确定，以及□穿透表面32，所述穿透表面32被配置为将所述测量光的第二部分透射为透射测量光5b，●传感器装置40，所述传感器装置40具有传感器41，所述传感器41被配置和布置在所述后向反射元件30后面，使得所述透射测量光5b能够被所述传感器41检测，其特征在于●所述光学检测单元20包括具有至少一个照射单元51、52、53、54、55、56的参考组件50，所述至少一个照射单元被配置为发射参考照射光51a、52a、53a、56a，●所述至少一个照射单元51、52、53、54、55、56被布置为与所述后向反射元件30和或所述传感器装置40具有固定位置关系，并且●所述参考组件50被配置和布置成将所述参考照射光51a、52a、53a、56a引导到所述传感器41上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 赫克斯冈技术中心 用于光学系统的监测装置

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