申请/专利权人：中国地质大学(武汉)

申请日：2023-12-19

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117745574A

主分类号：G06T5/70

分类号：G06T5/70;G06T5/80;G06T7/11;G06T7/90

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种基于对数修正的图像阴影去除方法、设备及存储设备，方法包括以下步骤：根据输入的阴影图像和阴影区域的标签，利用SLIC超像素分割算法将图像的阴影区域和其周围的光照区域分割成若干图像块，再将分割后的图像块进行聚类；统计每个图像块的特征，将每个阴影块和其相似度最高的光照块进行匹配；根据匹配结果生成伪光照区域，统计阴影区域和伪光照区域的RGB值，通过变换公式进行阴影去除处理；对处理完的图像进行颜色校正以及对阴影边缘的处理，完成对图像阴影的去除。本发明能够较好地消除图像中的阴影，并且在阴影边缘过渡较为自然。该方法可以为图像后续处理提供帮助，可以更好地利用图像阴影中的信息。

主权项：1.一种基于对数修正的图像阴影去除方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、根据输入的阴影图像和阴影区域的标签，利用SLIC超像素分割算法将图像的阴影区域和其周围的光照区域分割成若干图像块，再将分割后的图像块进行聚类；S2、统计每个图像块的特征，将每个阴影块和其相似度最高的光照块进行匹配；S3、根据匹配结果生成伪光照区域，统计阴影区域和伪光照区域的RGB值，通过变换公式进行阴影去除处理；S4、对处理完的图像进行颜色校正以及对阴影边缘的处理，完成对图像阴影的去除。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国地质大学(武汉) 基于对数修正的图像阴影去除方法、设备及存储设备

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