申请/专利权人：四川中科友成科技有限公司

申请日：2023-12-27

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117739865A

主分类号：G01B11/26

分类号：G01B11/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种垂直度测量方法和装置。用于测量待测转台的俯仰轴与方位轴的垂直度，包括如下步骤：调整第一自准直仪和待测转台上反射镜的角度，使第一自准直仪与反射镜自准，并使反射镜的镜面垂直于待测转台的俯仰轴线；旋转待测转台的方位轴，调整平晶的角度，使第一自准直仪与平晶自准；调整第二自准直仪的角度，使得第二自准直仪与平晶自准；在方位轴处于不同位置时转动俯仰轴，记录每次旋转后光斑在刻度分划板上的测量成像位置；计算待测转台的俯仰轴与方位轴的垂直度。通过搭建测试环境，记录转台在不同位置时产生的测量成像位置，保证了在记录过程中出射光束与俯仰轴的轴线平行，提高了测量的准确性。

主权项：1.一种垂直度测量方法，其特征在于，用于测量待测转台的俯仰轴与方位轴的垂直度，包括如下步骤：复位所述待测转台的方位轴，调整第一自准直仪和所述待测转台上反射镜的角度，使所述第一自准直仪与所述反射镜自准，并使所述反射镜的镜面垂直于所述待测转台的俯仰轴线，其中，所述第一自准直仪包括用于记录光斑位置的刻度分划板；复位所述待测转台的俯仰轴，旋转所述待测转台的方位轴，调整所述平晶的角度，使所述第一自准直仪与所述平晶自准；调整第二自准直仪的角度，使得所述第二自准直仪与所述平晶自准；在所述方位轴处于不同位置时转动所述俯仰轴，记录每次旋转后所述光斑在所述刻度分划板上的测量成像位置；根据所述测量成像位置以及所述刻度分划板上单位距离与平面倾角的转换关系，计算所述待测转台的俯仰轴与方位轴的垂直度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 四川中科友成科技有限公司 一种垂直度测量方法和装置

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