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【发明公布】一种铁电薄膜制备方法、铁电薄膜及包含其的铁电器件_复旦大学_202311748793.0 

申请/专利权人:复旦大学

申请日:2023-12-19

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117737698A

主分类号:C23C16/455

分类号:C23C16/455;C23C16/40;C23C16/52;C23C16/56;H10B51/30

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明公开一种铁电薄膜制备方法、铁电薄膜及包含其的铁电器件。该铁电薄膜制备方法,以TEMAH为铪前驱体,以La‑FMD为镧前驱体,以氧等离子体或水源为氧源,通过原子层沉积技术生长HfLaO薄膜;通过HfO2和La2O3的交替沉积周期,对La掺杂浓度以及薄膜厚度进行可控调整;通过快速热退火促进HfLaO薄膜o相的形成,激活铁电性,其中,基于La元素离子半径大和电负性低特性,使得HfLaO薄膜中的o相的比例提升,提高薄膜的剩余极化强度和耐压特性。基于HfLaO薄膜较高的剩余极化强度,在铁电隧穿结器件中可以实现更高隧穿势垒变化,表现出更高的开关比,提高铁电存储器的存储密度。

主权项:1.一种铁电薄膜制备方法,其特征在于,以TEMAH为铪前驱体,以La-FMD为镧前驱体,以氧等离子体或水源为氧源,通过原子层沉积技术生长HfLaO薄膜;通过调节HfO2和La2O3的交替沉积周期,对La掺杂浓度以及HfLaO薄膜厚度进行可控调整;通过快速热退火促进HfLaO薄膜o相的形成,激活铁电性,其中,基于La元素离子半径大和电负性低特性,使得HfLaO薄膜中的o相的比例提升,提高薄膜的剩余极化强度和耐压特性。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 复旦大学 一种铁电薄膜制备方法、铁电薄膜及包含其的铁电器件

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