申请/专利权人：上海孤波科技有限公司

申请日：2023-11-29

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117743277A

主分类号：G06F16/172

分类号：G06F16/172;G06F16/182;G06F16/27

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本申请提供了一种芯片测试数据的处理方法、装置、电子设备及介质，该方法包括：从Clickhouse服务端，获取待处理芯片测试数据的计算结果的分布式文件系统存储路径和Clickhouse数据库节点；将待处理芯片测试数据、分布式文件系统存储路径和待处理芯片测试数据的计算指令发送给Clickhouse引擎，以使引擎根据计算指令对待处理芯片测试数据进行计算，并按照分布式文件系统存储路径将计算结果存储到分布式文件系统中；将分布式文件系统中的待处理芯片测试数据的计算结果存储到数据库节点。本申请通过引擎对待处理芯片测试数据进行计算，能够对芯片测试数据进行处理，提高了芯片测试数据的处理效率。

主权项：1.一种芯片测试数据的处理方法，其特征在于，所述方法应用于Spark计算引擎，所述芯片测试数据的处理方法包括：获取以列式存储的待处理芯片测试数据；从Clickhouse服务端，获取所述待处理芯片测试数据的计算结果的分布式文件系统存储路径和Clickhouse数据库节点；将所述待处理芯片测试数据、所述分布式文件系统存储路径和所述待处理芯片测试数据的计算指令发送给Clickhouse引擎，以使所述Clickhouse引擎根据所述计算指令对所述待处理芯片测试数据进行计算，并按照所述分布式文件系统存储路径将计算结果存储到分布式文件系统中；接收到所述Clickhouse引擎发送的所述待处理芯片测试数据的计算结果存储完成信息后，将所述分布式文件系统中的所述待处理芯片测试数据的计算结果存储到所述Clickhouse数据库节点。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海孤波科技有限公司 一种芯片测试数据的处理方法、装置、电子设备及介质

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