申请/专利权人:图尔库大学
申请日:2018-05-04
公开(公告)日:2024-03-26
公开(公告)号:CN112074558B
主分类号:C08G61/12
分类号:C08G61/12;H10K30/80;H10K50/80;C09K3/16;C09D5/24;C09D165/00;H01B1/12;H10K85/10;H01G9/00;H01G9/028;H01G9/15
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.03.26#授权;2021.04.27#实质审查的生效;2020.12.11#公开
摘要:本发明公开了一种用于制备衬底上的PEDOT膜的方法,所述膜包括衬底和在衬底表面上的至少一个PEDOT层。该方法包括以下步骤:将包含氧化剂和碱抑制剂的溶液涂覆在衬底的表面上,通过在聚合温度下使涂覆有氧化剂的衬底的表面暴露于EDOT单体蒸汽,使涂覆有氧化剂的衬底经受聚合步骤,以及其中在聚合步骤中,使涂覆有氧化剂的衬底的温度保持在受控的衬底温度,并且其中所述受控的衬底温度比所述聚合温度低2至40℃。此外还公开了导电PEDOT膜,包括导电PEDOT膜的电子器件以及导电PEDOT膜的不同用途。
主权项:1.一种用于制备聚3,4-乙撑二氧噻吩PEDOT膜的方法,所述膜包括衬底和在衬底的至少一个表面上的至少一个PEDOT层,其中该方法包括以下步骤:a将包含氧化剂和碱抑制剂的溶液涂覆在所述衬底的至少一个表面上,以便在所述衬底的至少一个表面上形成氧化剂涂层,b通过在聚合温度下使涂覆有氧化剂的衬底的表面暴露于3,4-乙撑二氧噻吩EDOT单体蒸汽,使步骤a中形成的涂覆有氧化剂的衬底经受聚合步骤,以在涂覆有氧化剂的衬底的表面上形成PEDOT层,其中所述聚合步骤的持续时间为1至10分钟,以及其中在聚合步骤中,使涂覆有氧化剂的衬底的温度保持在受控的衬底温度,其中所述聚合温度为55-95℃,并且所述受控的衬底温度为40-70℃,并且其中所述受控的衬底温度比所述聚合温度低2至30℃。
全文数据:
权利要求:
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