申请/专利权人：深圳市中兴微电子技术有限公司

申请日：2022-09-21

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117792836A

主分类号：H04L25/03

分类号：H04L25/03;H04L1/00

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.29#公开

摘要：本申请实施例提供了一种最大似然序列的检测电路、检测方法、装置和电子设备，该最大似然序列的检测电路包括：均衡处理模块，用于对模拟数字转换器ADC输出信号进行均衡处理并根据所述ADC输出信号输出软值；状态选择模块，所述状态选择模块与所述均衡处理模块连接，用于根据所述软值确定目标信号状态；检测模块，所述检测模块与所述状态选择模块连接，用于根据所述目标信号状态进行最大似然序列检测并在译码后输出检测结果。

主权项：1.一种最大似然序列的检测电路，其特征在于，包括：均衡处理模块，用于对模拟数字转换器ADC输出信号进行均衡处理并根据所述ADC输出信号输出软值；状态选择模块，所述状态选择模块与所述均衡处理模块连接，用于根据所述软值确定目标信号状态；检测模块，所述检测模块与所述状态选择模块连接，用于根据所述目标信号状态进行最大似然序列检测并在译码后输出检测结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市中兴微电子技术有限公司 最大似然序列的检测电路、检测方法、装置和电子设备

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