申请/专利权人：上海联影微电子科技有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117782540A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02;G01J5/90

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本申请涉及一种探测器分辨率极限的检测方法、装置、系统和存储介质，该方法包括：获取不同测试条件下，待测探测器对预设对象集合的响应集合；确定预设对象集合和响应集合的匹配度；在匹配度符合预设条件时，获取待测探测器的至少一个采样值；基于采样值，确定待测探测器的分辨率极限。通过本申请，在不同测试条件下，根据预设对象集合和响应集合的匹配度满足预设条件时的采样值，确定探测器的分辨率极限，更加符合探测器的实际应用情况，能够提高探测器分辨率极限的检测准确性，解决了难以保证探测器分辨率极限的检测准确性的问题。

主权项：1.一种探测器分辨率极限的检测方法，其特征在于，包括：获取不同测试条件下，待测探测器对预设对象集合的响应集合；确定所述预设对象集合和所述响应集合的匹配度；在所述匹配度符合预设条件时，获取所述待测探测器的至少一个采样值；基于所述采样值，确定所述待测探测器的分辨率极限。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海联影微电子科技有限公司 探测器分辨率极限的检测方法、装置、系统和存储介质

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