申请/专利权人：上海概伦电子股份有限公司

申请日：2023-12-27

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117785699A

主分类号：G06F11/36

分类号：G06F11/36

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本申请公开了一种回归测试方法、电子设备及存储介质。该方法包括：构建测试用例消息队列和桌面环境镜像；将测试用例消息队列对应的私有云从节点所需的测试执行文件注入至桌面环境镜像中，形成镜像副本；并且将从节点的节点启动命令作为桌面环境镜像对应的镜像容器的容器启动命令；将镜像容器部署于预设私有云中；在测试用例消息队列中获取待执行测试用例，并将待执行测试用例分发至测试用例消息队列对应的私有云从节点中；以及接收私有云从节点反馈的测试数据，并将测试数据持久化至数据库中。利用本申请提供的方案，能够提升回归测试的效率，提高机器硬件资源使用率，改善产品质量监测水平以及版本验证效率。

主权项：1.一种回归测试方法，其特征在于，包括：构建测试用例消息队列和桌面环境镜像；将所述测试用例消息队列对应的私有云从节点所需的测试执行文件注入至所述桌面环境镜像中，形成镜像副本；并且将所述从节点的节点启动命令作为所述桌面环境镜像对应的镜像容器的容器启动命令；将所述镜像容器部署于预设私有云中；在所述测试用例消息队列中获取待执行测试用例，并将所述待执行测试用例分发至所述测试用例消息队列对应的私有云从节点中，使得所述私有云从节点能够基于所述镜像副本中的测试执行文件执行回归测试；以及接收所述私有云从节点反馈的测试数据，并将所述测试数据持久化至数据库中。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海概伦电子股份有限公司 回归测试方法、电子设备及存储介质

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