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【发明授权】基于信号处理信息的二次雷达询问天线检测方法_中国电子科技集团公司第十研究所_202311732945.8 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第十研究所

申请日:2023-12-18

公开(公告)日:2024-03-29

公开(公告)号:CN117420520B

主分类号:G01S7/40

分类号:G01S7/40;G01R29/10

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.29#授权;2024.02.06#实质审查的生效;2024.01.19#公开

摘要:本发明公开了一种基于信号处理信息的二次雷达询问天线检测方法,属于敌我识别系统中二次雷达询问天线检测领域,包括步骤:询问天线在按固定转速旋转的同时,询问机以一定的询问频率发射询问信号,询问天线接收到目标的应答信号后,通过和差器将信号分为和、差两路信号,送往询问机主机进行处理,得到和、差两路信号脉冲的幅度,通过鉴相得到相位信息。在天线旋转的过程中,得到多组不同的和、差幅度值与相位信息,利用这些信息绘制天线方向图,判断天线方向图是否正确,最后进行单脉冲测角,根据测角值再辅助天线自检情况,判断天线性能是否正常。本发明解决了在实际使用中,天线不宜拆卸,无法方便快速地对天线性能进行检测的问题。

主权项:1.一种基于信号处理信息的二次雷达询问天线检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,二次雷达询问天线在按固定转速旋转的同时,询问机以设定的询问频率通过询问天线发射询问信号,当目标进入询问波束范围后,将对询问信号进行应答,询问天线接收到目标的应答信号后,通过和差器将应答信号分为和信号与差信号;S2,询问机主机收到和信号与差信号后进行处理,得到和、差两路信号脉冲的幅度,通过鉴相得到相位信息;S3,在天线旋转的过程中,一个目标在询问天线不同的指向情况下连续多次被询问到,得到多组不同的和、差幅度值与相位信息,利用这些信息绘制天线方向图,判断天线方向图是否正确;在步骤S3中,所述判断天线方向图是否正确具体包括子步骤:利用绘制出的波束范围内的天线方向图与天线本来的天线方向图进行比较,初步判断天线性能是否正确;S4,根据天线OBA表,利用和差幅度和相位信息进行单脉冲测角,根据测角值判断天线性能是否正常;在步骤S4中,所述根据测角值判断天线性能是否正常具体包括子步骤:根据测角值以及天线自检情况判断天线性能是否正常;所述根据测角值以及天线自检情况判断天线性能是否正常,具体包括子步骤:将多次询问得到的目标角度进行判断,如果这些目标角度值在误差范围内,则判定询问天线正常,否则判定询问天线有故障。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第十研究所 基于信号处理信息的二次雷达询问天线检测方法

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