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【发明授权】一种光刻机能量检测装置及检测方法_锡凡半导体无锡有限公司_202111554580.5 

申请/专利权人:锡凡半导体无锡有限公司

申请日:2021-12-17

公开(公告)日:2024-03-29

公开(公告)号:CN114323268B

主分类号:G01J1/42

分类号:G01J1/42

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.29#授权;2022.04.29#实质审查的生效;2022.04.12#公开

摘要:本发明属于能量检测领域,公开了一种光刻机能量检测装置及检测方法,装置包括安装板,安装板固定安装在光刻机运动机构中,安装板的前端面横向固定设置有两根导轨,安装板的一侧固定设置有伺服电机,伺服电机通过同步轮同步带驱动有安装座,安装座通过滑块滑动设置在两根导轨之间。本发明通过CCD和能量探头的配合使用,对光刻机的出光进行精确到像素点的能量检测,便于对光刻机的出光能量均匀性进行更精确的检测,有效提高光刻机的曝光精度,防止因衰减片的老化而出现测量误差;通过衰减片的使用,有效提高CCD可检测的能量范围,通过同步带的使用,有效降低能量检测装置的重量,有效减少运动机构的变形量。

主权项:1.一种光刻机能量检测方法,基于检测装置进行检测,其特征在于,检测装置包括安装板1,所述安装板1固定安装在光刻机运动机构中,所述安装板1的前端面横向固定设置有两根导轨9,所述安装板的一侧固定设置有伺服电机2,所述伺服电机2通过同步轮5和同步带11驱动安装座4,所述安装座通过滑块13滑动设置在两根导轨之间;所述安装座4的一侧固定设置有CCD8,所述安装座的顶面固定设置有能量探头6;所述安装板1的后端面顶部横向设置有光栅尺10,所述安装座4配合光栅尺10固定设置有读数头12;所述CCD8的顶端配合设置有衰减片7,所述衰减片的通过率为0.2;所述能量探头6为热敏型能量检测探头,所述能量探头6通过导线与上位机进行电性连接,且能量探头的检测区域大于CCD视野;所述伺服电机通过导线与伺服驱动器电性连接,编码器和伺服驱动器分别通过导线与驱动控制器进行电性连接;所述CCD通过导线与上位机进行电性连接;所述安装座与安装板之间配合设置有用于放置线缆的拖链3;检测方法包括以下步骤:步骤一,将光刻机的出光区域根据CCD的视野等分为N份,每份光刻机的出光区域单独投图时CCD感光的像素点数量均为M个;步骤二,通过控制光刻机的运动机构和驱动安装座滑动的伺服电机将CCD移动至光刻机的出光区域内,分别测得各个区域内各像素点的灰度值,求平均数得到环境光灰度值B;步骤三,依次对等分后的光刻机的出光区域单独进行投图,并利用CCD分别测得区域内各个像素点的灰度值,通过计算得到光刻机的所有的出光区域内的灰度值均值A;步骤四,通过控制光刻机的依次对各个区域投射光斑,并控制将能量探头依次移动至光刻机的各个投图范围内,依次测得各个区域内的功率值,求平均数得到能量均值J;步骤五,灰度值与能量之间的系数为K,通过计算得到:K=JMA-B;步骤六,测得像素点的灰度值为C,像素点的感光能量值为E,通过计算得到E=KC-B=JC-BMA-B;步骤七,分别计算得出各个像素点的能量值E;步骤八,通过比对各个像素点的能量值E分析光刻机出光的均匀性,并判断各个像素点的能量值E是否满足生产需要。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 锡凡半导体无锡有限公司 一种光刻机能量检测装置及检测方法

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