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【发明授权】PN结掺杂结构、低损耗电光调制器及其制备方法_众瑞速联(武汉)科技有限公司_202311703946.X 

申请/专利权人:众瑞速联(武汉)科技有限公司

申请日:2023-12-13

公开(公告)日:2024-03-29

公开(公告)号:CN117389071B

主分类号:G02F1/015

分类号:G02F1/015;G02F1/03

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.29#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要:本申请涉及电光调制器的技术领域,具体涉及一种PN结掺杂结构、低损耗电光调制器及其制备方法,低损耗电光调制器包括PN结掺杂结构,PN结掺杂结构包括脊波导、限制层,脊波导包括依次连接的第一N型掺杂区域、第二N型掺杂区域、第二P型掺杂区域、第一P型掺杂区域,其中,所述第一N型掺杂区域的掺杂浓度大于所述第二N型掺杂区域,所述第一P型掺杂区域的掺杂浓度大于第二P型掺杂区域,所述第二N型掺杂区域、所述第二P型掺杂区域间形成横向PN结;限制层覆设于横向PN结端面,其中,用于制作所述限制层的材料的折射率大于二氧化硅的折射率,小于硅的折射率。本申请具有低光学损耗的效果。

主权项:1.PN结掺杂结构,其特征在于,包括:脊波导,其包括依次连接的第一N型掺杂区域3、第二N型掺杂区域5、第二P型掺杂区域6、第一P型掺杂区域8,其中,所述第一N型掺杂区域3和所述第一P型掺杂区域8的掺杂浓度范围为1020cm3到1021cm3之间,所述第二N型掺杂区域5和所述第二P型掺杂区域6的掺杂浓度范围为1017cm3到1018cm3之间,所述第二N型掺杂区域5、所述第二P型掺杂区域6间形成横向PN结;限制层9,其覆设于横向PN结端面,其中,用于制作所述限制层9的材料为氮化硅或氮氧化硅。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 众瑞速联(武汉)科技有限公司 PN结掺杂结构、低损耗电光调制器及其制备方法

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