申请/专利权人：西门子工业软件有限公司

申请日：2019-03-21

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN112154336B

主分类号：G01R31/26

分类号：G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3185

优先权：["20180322 US 62/646,494"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.29#授权;2021.06.08#著录事项变更;2021.01.15#实质审查的生效;2020.12.29#公开

摘要：用于测试电路的系统，包括：扫描链、被配置为基于子测试向量信息来生成比特位反转信号的控制器、以及比特反转电路，所述比特反转电路被耦合至该控制器并被配置为在移位操作期间基于该比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位以生成子测试向量。这里，用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和移位操作中所述多个移位时钟周期的位置。

主权项：1.一种用于测试电路的系统，包括：扫描链，其包括扫描单元，所述扫描链被配置为：在测试模式下移入测试向量，将所述测试向量应用至所述电路，捕获所述电路的测试响应，以及移出所述测试响应；控制器，其包括存储电路，所述控制器被配置为基于存储在所述存储电路中的子测试向量信息来生成比特位反转信号；和比特位反转电路，其耦合至所述控制器，所述比特位反转电路被配置为通过基于所述比特位反转信号在移位操作期间反转父测试向量的多个比特位来生成子测试向量，其中所述多个比特位的位置与用于比特位反转的多个移位时钟周期相关联，用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，m表示连续的比特位反转时间帧之间的距离，并且所述子测试向量信息包括m的信息和所述移位操作中的用于比特位反转的所述多个移位时钟周期的位置，其中所述父测试向量和所述移位操作中的用于比特位反转的所述多个移位时钟周期的位置由测试向量生成软件工具来确定，所述测试向量生成软件工具执行向量生成过程，所述向量生成过程包括：首先执行电路结构分析以识别超级门，使用所述超级门运行自动测试向量生成过程以确定父测试向量，并生成所述父测试向量的子测试向量。

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权利要求：

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