申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805146A

主分类号：G01N23/02

分类号：G01N23/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本公开提供了一种射线辐照装置，涉及辐射检测技术领域。一种射线辐照装置，包括：射线源组件，包括具有第一狭缝的第一屏蔽件，射线源被配置为发出射线穿过第一狭缝扫描检测通道内的目标对象；探测器组件，包括具有第二狭缝的第二屏蔽件，探测器组件被配置为探测穿过第二狭缝的射线；安装框架组件，其中，射线源组件和探测器组件安装在安装框架组件上以限定出检测通道，第一屏蔽件和第二屏蔽件是分离的，两者各自单独地被固定至安装框架组件分别作为检测通道的一侧壁；其中，射线源组件上的第一标记与探测器组件上的第二标记位于射线的出束面，第一标记与第一狭缝对齐，第二标记与第二狭缝对齐。

主权项：1.一种射线辐照装置，包括：射线源组件，包括具有第一狭缝的第一屏蔽件，所述射线源组件被配置为发出射线穿过所述第一狭缝扫描检测通道内的目标对象；探测器组件，包括具有第二狭缝的第二屏蔽件，所述探测器组件被配置为探测穿过所述第二狭缝的所述射线；安装框架组件，其中，所述射线源组件和所述探测器组件安装在所述安装框架组件上以限定出所述检测通道，所述第一屏蔽件和所述第二屏蔽件是分离的，两者各自单独地被固定至所述安装框架组件分别作为所述检测通道的一侧壁；其中，所述射线源组件上的第一标记与所述探测器组件上的第二标记位于所述射线的出束面，所述第一标记与所述第一狭缝对齐，所述第二标记与所述第二狭缝对齐。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 同方威视技术股份有限公司;清华大学 射线辐照装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD