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【发明公布】超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法及光学器件_深圳博升光电科技有限公司_202311627126.7 

申请/专利权人:深圳博升光电科技有限公司

申请日:2023-11-29

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117806033A

主分类号:G02B27/00

分类号:G02B27/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本公开涉及光电器件技术领域,提供了一种超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法及光学器件。该超表面光学器件包括多个晶胞,各晶胞包括设置于衬底上的光学单元,该方法包括根据目标无衍射光束类型确定其对应的第一二维相位分布;根据目标光斑阵列确定其对应的第二二维相位分布;对第一二维相位分布和第二二维相位分布进行叠加,获得第三二维相位分布;根据几何参数与透射率的对应关系以及几何参数与透射相位的对应关系,与第三二维相位分布进行匹配,以获得光学单元对应的几何参数。采用本公开的方法所获得的超表面光学器件,可显著减小器件体积,适用范围广泛,同时可灵活选择无衍射光束与光斑阵列,满足了多样化的使用需求。

主权项:1.一种超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法,其特征在于,所述超表面光学器件包括多个晶胞,各所述晶胞包括设置于衬底上的光学单元,所述方法包括:根据目标无衍射光束类型确定其对应的第一二维相位分布;根据目标光斑阵列确定其对应的第二二维相位分布;对所述第一二维相位分布和所述第二二维相位分布进行叠加,获得第三二维相位分布;根据几何参数与透射率的对应关系以及几何参数与透射相位的对应关系,与所述第三二维相位分布进行匹配,以获得所述超表面光学器件中各所述光学单元所对应的几何参数;其中,所述几何参数与透射率的对应关系表征多种不同类型偏振光入射条件下,不同几何参数的光学单元所对应的透射率;所述几何参数与透射相位的对应关系表征多种不同类型偏振光入射条件下,不同几何参数的光学单元所对应的透射相位。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳博升光电科技有限公司 超表面光学器件的光学单元几何参数确定方法及光学器件

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