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【发明公布】动态随机存储器测试方法及装置_长鑫存储技术有限公司_202211166055.0 

申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

申请日:2022-09-23

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117809726A

主分类号:G11C29/32

分类号:G11C29/32;G11C29/50;G11C29/56

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本公开提供一种动态随机存储器测试方法及装置,涉及存储器技术领域。动态随机存储器包括衬底和多个存储单元,各个存储单元包括存储电容和第一晶体管,各个存储单元的存储电容通过对应的第一晶体管与衬底电连接。该方法包括:通过将向衬底施加的电压从第一电压切换为第二电压,对各个存储单元的存储电容进行充电,第二电压高于第一电压;在各个存储单元的存储电容充电预定时长后,对动态随机存储器进行测试。该方法可缩减测试项目中写入背景的时间,提高了测试效率。

主权项:1.一种动态随机存储器测试方法,其特征在于,所述动态随机存储器包括衬底和多个存储单元,各个存储单元包括存储电容和第一晶体管,各个存储单元的存储电容通过对应的第一晶体管与所述衬底电连接,所述方法包括:通过将向所述衬底施加的电压从第一电压切换为第二电压,对各个存储单元的存储电容进行充电,所述第二电压高于所述第一电压;在各个存储单元的存储电容充电预定时长后,对所述动态随机存储器进行测试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 长鑫存储技术有限公司 动态随机存储器测试方法及装置

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