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【发明公布】一种弱散射体的定量衍射断层扫描混叠修正方法及系统_数据空间研究院_202311869097.5 

申请/专利权人:数据空间研究院

申请日:2023-12-29

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117805812A

主分类号:G01S13/89

分类号:G01S13/89;G01S7/41

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明公开了一种弱散射体的定量衍射断层扫描混叠修正方法及系统,方法包括:基于天线阵列结构,构建反演计算数学模型;基于天线阵列结构向待测物体发射电磁波并接收经待测物体反射回来的回波信号;对待测物体的回波信号进行水平和垂直方向的快速傅里叶变换,然后进行插值得到状态谱域坐标;对天线阵列信号的空间谱进行一次反演,得到Nf个频率的解耦后的相对介电常数和磁导率;对多频率下的空间谱修正,得到修正后的相对介电常数和磁导率并进行二维傅里叶反变换,从而得到待测物体的图像结果;本发明的优点在于:提高定量反演精度。

主权项:1.一种弱散射体的定量衍射断层扫描混叠修正方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、基于天线阵列结构,构建反演计算数学模型;步骤2、基于天线阵列结构向待测物体发射电磁波并接收经待测物体反射回来的回波信号;步骤3、对待测物体的回波信号进行水平和垂直方向的快速傅里叶变换,然后进行插值得到状态谱域坐标;步骤4、对天线阵列信号的空间谱进行一次反演,得到Nf个频率的解耦后的相对介电常数和磁导率;步骤5、对多频率下的空间谱修正,得到修正后的相对介电常数和磁导率并进行二维傅里叶反变换,从而得到待测物体的图像结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 数据空间研究院 一种弱散射体的定量衍射断层扫描混叠修正方法及系统

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