申请/专利权人:上海核工程研究设计院股份有限公司;上海交通大学
申请日:2024-01-10
公开(公告)日:2024-04-02
公开(公告)号:CN117805440A
主分类号:G01P21/02
分类号:G01P21/02
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开
摘要:本发明提供一种PIV标定装置及标定方法,标定装置包括位移机构和相机,位移机构具有彼此垂直设置的第一位移台、第二位移台以及第三位移台,第一位移台和第二位移台沿第三位移台的长度延伸方向滑动,第一位移台和第二位移台上均设有一个激光器,激光器沿第一位移台或第二位移台的长度延伸方向滑动;相机设于位移机构的一侧,相机平面与第一位移台和第二位移台上的激光器打光的光路平面平行。上述PIV标定装置可以精确按照自定义的标定图像产生光路,利用激光器进行标定,对实验流场无干扰的同步测量,进而获得与试验环境更贴合的准确标定信息,对于激光器的标定,可以仅对位移机构进行程序控制进行微调即可适应于不同测量对象,极大地降低了成本。
主权项:1.一种PIV标定装置,其特征在于,包括:位移机构,具有彼此垂直设置的第一位移台、第二位移台以及第三位移台,所述第一位移台和所述第二位移台沿所述第三位移台的长度延伸方向滑动,所述第一位移台和所述第二位移台上均设有一个激光器,所述激光器沿所述第一位移台或所述第二位移台的长度延伸方向滑动;相机,设于所述位移机构的一侧,所述相机平面与所述第一位移台和所述第二位移台上的所述激光器打光的光路平面平行。
全文数据:
权利要求:
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