申请/专利权人:中国石油大学(华东)
申请日:2023-12-25
公开(公告)日:2024-04-02
公开(公告)号:CN117490849B
主分类号:G01J4/00
分类号:G01J4/00
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.02#授权;2024.02.23#实质审查的生效;2024.02.02#公开
摘要:本发明属于偏振检测技术领域,具体公开了一种基于角向间隔阵列的复杂涡旋自聚焦光束的偏振检测方法。用于对入射光束的偏振检测。通过将不同调控方式或实现不同目的的超表面单元以角向间隔的排列方式均匀地排列成圆盘或环状的超表面,基于所述超表面生成多模涡旋自聚焦光束,进一步得到涡旋自聚焦光束阵列,利用涡旋自聚焦光束阵列实现不同入射光束偏振态的检测。本发明在圆形阵列超表面中实现了阵列单元的复用,产生了多模涡旋自聚焦光束、涡旋自聚焦光束阵列,并利用涡旋自聚焦光束阵列实现对入射光束偏振态的检测。
主权项:1.一种基于角向间隔阵列的复杂涡旋自聚焦光束的偏振检测方法,其特征在于,将不同调控方式或实现不同目的的超表面单元以角向间隔的排列方式均匀地排列成圆盘或环状的超表面,基于所述超表面生成多模涡旋自聚焦光束,进一步得到涡旋自聚焦光束阵列,利用涡旋自聚焦光束阵列实现不同入射光束偏振态的检测;包括以下步骤:S1、引入坐标函数来描述各子阵列的超表面单元的坐标,在角向坐标系中,第n个子阵列的超表面单元在超表面中位置的表达式为:(1);其中,为角向坐标系下的坐标;代表所处环的编号,以中心最小环的标号为1;代表超表面单元的晶格周期;M代表中心最小环的超表面单元数;m代表所述超表面单元在其环上的标号;为排列在所述超表面上的子阵列数;通过式(1)确定各所述超表面单元排列在所述超表面上的位置,所有的子阵列被间隔排列在所述超表面上而互不影响;S2、基于所述超表面生成若干自聚焦涡旋光束,将所述自聚焦涡旋光束相干叠加生成多模涡旋自聚焦光束;S3、将所述自聚焦涡旋光束以不同倾斜相位重新相干叠加生成涡旋自聚焦光束阵列;S4、利用角向间隔排列的方法将复合相位和双相位单元排列形成阵列,使用步骤S3中生成的不同的涡旋自聚焦光束阵列,实现对入射光束的偏振态的检测。
全文数据:
权利要求:
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