申请/专利权人：深圳市光科全息技术有限公司

申请日：2024-03-08

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117850726A

主分类号：G06F3/14

分类号：G06F3/14

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请公开了一种利用DOE光子晶体膜进行卷积计算的方法、系统及设备，根据输入的数据矩阵对第一显示屏幕上的像素点进行目标光属性调节，将数据矩阵转换为第一显示屏幕上的第一目标像素阵列；通过采集工具采集第一显示屏幕上的局部像素点经过第一DOE光子晶体膜衍射后的第一目标数据；对第一目标数据进行处理，得到数据矩阵与第一DOE光子晶体膜对应的第一衍射效率矩阵之间的第一卷积计算结果。本申请利用衍射光学元件和光学方法实现了矩阵的光学卷积计算，无需按顺序处理矩阵中的每个元素，也无需多次进行矩阵乘法运算，可以快速处理大规模矩阵的卷积运算，复杂度大大降低，节省了时间和空间成本，保证了卷积计算的准确度和速度。

主权项：1.一种利用DOE光子晶体膜进行卷积计算的方法，其特征在于，所述方法包括：根据输入的数据矩阵对第一显示屏幕上的像素点进行目标光属性调节，将所述数据矩阵转换为所述第一显示屏幕上的第一目标像素阵列，其中，所述第一目标像素阵列中每个第一像素点的目标光属性与所述数据矩阵中相应矩阵元的数值相关，所述第一显示屏幕上的其他像素点的目标光属性均为默认初始值；通过采集工具采集所述第一显示屏幕上的局部像素点经过第一DOE光子晶体膜衍射后的第一目标数据，其中，所述第一显示屏幕上覆盖有所述第一DOE光子晶体膜，所述第一显示屏幕上的局部像素点包括所述第一目标像素阵列的像素点及其邻近像素点；对所述第一目标数据进行处理，得到所述数据矩阵与所述第一DOE光子晶体膜对应的第一衍射效率矩阵之间的第一卷积计算结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市光科全息技术有限公司 利用DOE光子晶体膜进行卷积计算的方法、系统及设备

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