申请/专利权人：国民技术股份有限公司

申请日：2022-10-09

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849573A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请涉及芯片通信可靠性测试方法、装置、电子设备和存储介质，在测试的过程中，通过选定的系数采用插值法从待测工作温度区间中确定测试温度，获得在该测试温度下的测试结果，缩小待测温度区间，再通过选定的系数采用插值法从缩小的待测温度区间中确定新的测试温度，获得在该新的测试温度下的测试结果，直至满足通信可靠性条件，将在满足通信可靠性条件后所获得温度区间确定为可靠性温度区间。根据本申请的方案，在测试的过程中无需遍历所有工作温度，只需根据在当前测试温度下的测试结果缩小待测温度区间，从而提高了测试效率，降低了测试周期。

主权项：1.一种芯片通信可靠性测试方法，其特征在于，包括：a设定芯片的待测工作温度区间，其中，所述待测工作温度区间包括最低工作温度和最高工作温度，所述最低工作温度和所述最高工作温度为初始设置的最低工作温度和最高工作温度；b根据选定的系数采用插值法从所述待测工作温度区间中确定测试温度；c在所述测试温度下，确定所述芯片在波特率集合中的选定波特率下的通信测试是否成功；d在所述芯片在所述选定波特率下的通信测试成功的情况下，确定是否满足通信可靠性条件；e响应于满足通信可靠性条件，将当前测试温度设置为所述最低工作温度，将上一次的所述芯片在所述选定波特率下的通信测试成功的情况下采用的测试温度设置为所述最高工作温度，确定所述选定波特率下的可靠性温度区间；以及f将所述选定的系数确定为芯片批量测试所采用的系数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 国民技术股份有限公司 芯片通信可靠性测试方法、装置、电子设备和存储介质

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