申请/专利权人：重庆大学

申请日：2023-12-18

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848494A

主分类号：G01J3/02

分类号：G01J3/02;G01J3/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种高空间分辨率微型成像光谱检测装置及光谱检测方法，涉及光谱仪技术领域。所述微型成像光谱装置用于待测光束的光谱分布进行检测，包括近场耦合光谱编码层结构，以及与近场耦合光谱编码层结构连接的光电探测阵列。所述近场耦合光谱编码层结构用于将待测光束进行光谱编码。本发明可以克服以往成像光谱仪无法兼顾成像空间分辨率和光谱分辨率的问题，所改进的光学超表面阵列利用亚波长微结构间的局域耦合在极少数量的亚波长单元下实现高品质因子光谱编码，可实现单像素级编码小于5μm×5μm。该设计使具有紧凑结构的微型成像光谱检测装置设计成为可能。

主权项：1.一种高空间分辨率微型成像光谱检测装置，用于对待测光束进行微型成像以及光谱分布检测，其特征在于，所述微型成像光谱装置至少包括近场耦合光谱编码层结构，以及与近场耦合光谱编码层结构连接的光电探测阵列；所述近场耦合光谱编码层结构用于将待测光束进行光谱编码。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 重庆大学 一种高空间分辨率微型成像光谱检测装置及光谱检测方法

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