申请/专利权人：华中科技大学

申请日：2022-07-22

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN115201180B

主分类号：G01N21/71

分类号：G01N21/71;G06F17/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2022.11.04#实质审查的生效;2022.10.18#公开

摘要：本发明提供了一种单标样校正激光诱导击穿光谱定量方法及系统，包括：使用激光诱导击穿光谱仪对标准样品和待测样品进行检测，获得标准样品和待测样品的特征光谱数据；筛选出各元素无自吸收的谱线构成分析谱线库；通过萨哈‑玻尔兹曼图法，将元素分析谱线映射到萨哈‑玻尔兹曼平面；根据标准样品已知值与实际预测值计算获得校正因子；进而根据校正后的萨哈‑玻尔兹曼图拟合直线计算出待测样品中各个目标元素的含量。本发明通过利用萨哈‑玻尔兹曼图结合单标样校正法，可降低实验参数计算不准确以及谱线自吸收效应的影响，大幅提高激光诱导击穿光谱单标样校正法定量分析准确度。

主权项：1.一种单标样校正激光诱导击穿光谱定量方法，其特征在于，包括如下步骤：获取标准样品受激光诱导激发出的等离子体光谱，从其等离子体光谱中为每种元素选取多条无自吸收效应的特征谱线；所述特征谱线包括原子谱线和离子谱线中的至少一种；将标准样品中有原子谱线和离子谱线的元素设为第一类元素，只有原子谱线或离子谱线的元素设为第二类元素；所述标准样品和待测样品的元素组成相同，且标准样品和待测样品的各元素含量相近，标准样品中各个元素的含量已知；将第一类元素中各元素的特征谱线映射到萨哈-玻尔兹曼平面上形成散点图；并对所述散点图进行线性拟合，以确定所述特征谱线对应的等离子体温度；所述等离子体温度与线性拟合直线的斜率相关；结合标准样品第一类元素中各元素原子谱线、所述等离子体温度、所述线性拟合直线的纵截距及萨哈方程确定各元素的原子数密度和离子数密度，以得到第一类元素中各元素的粒子数密度；将第二类元素中各元素的特征谱线映射到萨哈-玻尔兹曼平面上形成散点图，结合对第一类元素散点图拟合得到的等离子体温度确定第二类元素散点图对应的直线斜率，并根据各元素散点图的中心点确定各元素散点图对应直线的纵截距，并根据第二类元素中各元素特征谱线在萨哈-玻尔兹曼平面的纵截距和萨哈方程确定各元素的原子数密度和离子数密度，以得到第二类元素中各元素的粒子数密度；根据标准样品中各元素的粒子数密度确定各元素的预测含量，根据标准样品中各元素的已知含量和预测含量确定各元素特征谱线在萨哈-玻尔兹曼平面上的校正因子；获取待测样品受激光诱导激发出的等离子体光谱，并结合标准样品特征谱线的波长确定待测样品中各元素的特征谱线；将待测样品各元素特征谱线映射到萨哈-玻尔兹曼平面上形成散点图，并结合上述标准样品求得的各元素的校正因子将待测样品散点图上各个点进行校正，并对校正后的散点图进行线性拟合，根据拟合得到的参数和萨哈方程确定待测样品各元素的校正含量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华中科技大学 一种单标样校正激光诱导击穿光谱定量方法及系统

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