申请/专利权人：杭州长川科技股份有限公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849598A

主分类号：G01R31/317

分类号：G01R31/317

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请涉及一种同步测试信号生成系统及方法，该系统包括主控板和多个测试板，所述测试板包括第一控制单元和第二控制单元，主控板向多个测试板发送同步时钟信号；基于同步时钟信号，主控板向多个测试板的第一控制单元下发测试指令；第一控制单元将测试指令发送至第二控制单元，第二控制单元将测试指令转换为对应的测试向量并发送至第一控制单元，第一控制单元将测试向量转换为对应的同步测试信号输出，该系统通过两个控制单元分别承担生成测试向量和生成测试信号的功能，解决了测试机数字板卡的FPGA芯片资源紧张且信号时序相互影响难以收敛的问题。

主权项：1.一种同步测试信号生成系统，其特征在于，所述系统包括主控板和多个测试板，所述测试板包括第一控制单元和第二控制单元，所述主控板向所述多个测试板发送同步时钟信号；基于所述同步时钟信号，所述主控板向所述多个测试板的第一控制单元下发测试指令；基于所述同步时钟信号，所述第一控制单元将所述测试指令发送至所述第二控制单元，所述第二控制单元将所述测试指令转换为对应的测试向量并发送至所述第一控制单元，所述第一控制单元将所述测试向量转换为对应的同步测试信号输出；所述多个测试板输出的多个同步测试信号用于执行被测器件的并行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州长川科技股份有限公司 同步测试信号生成系统及同步测试信号生成方法

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