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【发明公布】一种导电膜导电性能互容检测系统及方法_苏州诺菲纳米科技有限公司_202311626847.6 

申请/专利权人:苏州诺菲纳米科技有限公司

申请日:2023-11-30

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117849484A

主分类号:G01R31/00

分类号:G01R31/00;G01R27/26;G01R27/02;G01R31/52;G01R31/54;G01R1/02

优先权:["20231129 CN 2023116149250"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明涉及一种导电膜导电性能互容检测系统及方法,包括:互容模块,包括一导体,导体能够放置在导电膜上;控制单元,包括控制芯片,在控制芯片上设置有发射接口、接收接口和通讯接口,互容模块中的导体和导电膜中的各个导电通道通过发射接口和接收接口与控制芯片连接形成交流回路,控制芯片通过所示发射接口发射电信号,经过导体及各个导电通道后,通过接收接口接收回路反馈的耦合电信号;数据处理单元,通过通讯接口与控制单元连接,数据处理单元接收控制单元传递的耦合电信号,对耦合电信号进行转化处理,输出可读的电容相关值和电阻相关值。本发明利用互容检测通用性强,检测成本低,提高生产效率。

主权项:1.一种导电膜导电性能互容检测系统,所述导电膜具有至少一条导电通道,多条所述导电通道平行间隔分布,其特征在于,包括:互容模块,包括一导体,所述导体能够放置在所述导电膜上,所述导体的延伸方向与所述导电通道的延伸方向相垂直,所述导体能够覆盖导电膜上所有的导电通道;控制单元,包括控制芯片,在所述控制芯片上设置有发射接口、接收接口和通讯接口,所述互容模块中的导体和所述导电膜中的各个导电通道通过发射接口和接收接口与所述控制芯片连接形成交流回路,所述控制芯片通过所示发射接口发射电信号,经过导体及各个导电通道后,通过接收接口接收回路反馈的耦合电信号;数据处理单元,通过所述通讯接口与所述控制单元连接,所述数据处理单元接收控制单元传递的耦合电信号,对耦合电信号进行转化处理,输出可读的电容相关值和电阻相关值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州诺菲纳米科技有限公司 一种导电膜导电性能互容检测系统及方法

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