申请/专利权人：S·R·阿鲁穆甘

申请日：2022-07-04

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117859055A

主分类号：G01N23/227

分类号：G01N23/227;G06N10/00;B82Y10/00

优先权：["20210706 DE 102021117409.0"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明涉及一种方法，通过这种方法可以比以前更高的空间分辨率来定位材料中的缺陷，优选地为固体18中的缺陷。利用本发明，可以快速且经济地以高空间分辨率对这些缺陷进行成像。最重要的是，利用本发明可以以高灵敏度、高动态范围、大视场和优异的分辨率无接触地、自旋选择性地激发并捕获固体中的缺陷或对固体中的缺陷进行成像，这远远地超出了目前光学检测方法的能力。此外，利用根据本发明的方法，甚至对于在单个图像中检测自旋也有极大的可能性，其中使得自旋态的高对比度和自旋态的再现的更好的保真度成为可能。根据本发明的装置10和根据本发明的方法也非常适用于利用固体18中的缺陷自旋进行量子计算、能够量子化的捕获以及能够量子化的测量网络。

主权项：1.一种对具有带隙的材料18中的缺陷进行空间分辨定位的方法，其中所述缺陷具有一个或多个电子24，所述电子24具有处于所述带隙中的至少一个能级，其特征在于，所述电子24被激发，使得其被从所述材料中发射出来，并且随后执行电子成像14。

全文数据：

权利要求：

百度查询： S·R·阿鲁穆甘 用于对材料中的缺陷进行空间分辨定位的方法和装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD