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【发明公布】可靠性仿真方法、可靠性仿真装置、仿真设备和存储介质_北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司_202311550020.1 

申请/专利权人:北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司

申请日:2023-11-20

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117852462A

主分类号:G06F30/367

分类号:G06F30/367;G06F119/02;G06F119/04;G06F111/08;G06F111/10;G06F119/14;G06F119/08

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本申请公开可靠性仿真方法、可靠性仿真装置、仿真设备及非易失性计算机可读存储介质。方法包括获取电磁干扰信号的周期性干扰信号;对获取的电磁干扰信号周期性干扰信号进行高斯混合模拟,以获取高斯混合干扰信号时域函数;根据高斯混合干扰信号时域函数和预设加速因子模型,将周期性干扰信号转换为矩形脉冲信号,预设加速因子模型为正常工况下的预期失效时间和具有预设加速应力条件下的真实失效时间的比值,预设加速因子模型满足退化一致性条件;及将矩形脉冲信号作为输入边界条件,输入到预设的仿真软件仿真预设次数,以输出待仿真晶体管的退化率,退化率配置为表征待仿真晶体管的可靠性。如此,仿真结果可准确地反应待仿真晶体管的可靠性。

主权项:1.一种可靠性仿真方法,其特征在于,包括:获取电磁干扰信号的周期性干扰信号,所述电磁干扰信号由多个电磁脉冲信号叠加而成;对所述周期性干扰信号进行高斯混合模拟,以获取高斯混合干扰信号时域函数;根据所述高斯混合干扰信号时域函数和预设加速因子模型,将所述周期性干扰信号转换为矩形脉冲信号,所述预设加速因子模型为正常工况下的预期失效时间和具有预设加速应力条件下的真实失效时间的比值,所述预设加速因子模型满足退化一致性条件,所述退化一致性条件为对预设时长内动应力,积分获取的有效电场静应力和动应力的产生的退化一致;及将所述矩形脉冲信号作为输入边界条件,输入到预设的仿真软件仿真预设次数,以输出待仿真晶体管的退化率,所述退化率配置为表征所述待仿真晶体管的可靠性。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司 可靠性仿真方法、可靠性仿真装置、仿真设备和存储介质

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