申请/专利权人：苏州镁伽科技有限公司

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117853427A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G01N21/88;G06T7/11;G06T7/70

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明的实施例提供了器件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取待测器件的待测图像；基于待测图像，确定包含待测伸出部的第一感兴趣区域；对第一感兴趣区域进行图像分割，得到凸显待测伸出部的分割图像；至少基于待测伸出部在待测图像上的图像位置，在每个待测伸出部的周边确定第二感兴趣区域；根据分割图像所在区域和第二感兴趣区域的交集区域确定缺陷区域。根据本发明实施例的器件外观缺陷检测方法，通过对包含待测待测伸出部的第一感兴趣区域进行图像分割，并在每个待测伸出部的周边确定第二感兴趣区域，然后对分割图像所在区域与第二感兴趣区域求交集以确定缺陷区域，检测效率较高，能够适用于高通量要求的场景。

主权项：1.一种器件外观缺陷检测方法，所述器件包括主体部和从所述主体部延伸出的至少一个伸出部，所述方法用于对至少一个所述伸出部进行缺陷检测，其特征在于，所述方法包括：获取待测器件的待测图像；基于所述待测图像，确定包含待测伸出部的第一感兴趣区域；对所述第一感兴趣区域进行图像分割，得到凸显所述待测伸出部的分割图像；至少基于所述待测伸出部在待测图像上的图像位置，在每个所述待测伸出部的周边确定第二感兴趣区域；根据所述分割图像所在区域和所述第二感兴趣区域的交集区域确定缺陷区域。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州镁伽科技有限公司 器件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

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