申请/专利权人：深圳市思翰铭科技有限公司

申请日：2024-02-05

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117728906B

主分类号：H04B17/15

分类号：H04B17/15;H04B17/29

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明公开了一种有源天线的抗干扰性能测试系统及方法，属于电信号的测试领域，本发明将计算得到的整体抗干扰异常值与设定的抗干扰异常阈值进行对比，若计算得到的整体抗干扰异常值与设定的抗干扰异常阈值进行对比，若计算得到的整体抗干扰异常值大于等于设定的抗干扰异常阈值，则判断对应的有源天线抗干扰性能不合格，进行不合格提醒，否则判断对应的有源天线抗干扰性能合格，进行合格提醒，通过有源天线的信号发射‑接收特点对有源天线的接收信息强度进行对比和计算，以对生产后的有源天线在干扰环境下的抗干扰能力进行准确检验和评估。

主权项：1.一种有源天线的抗干扰性能测试方法，其特征在于，其包括以下具体步骤：S1、获取有源天线的视场角和探测距离，在不设置干扰源的情况下将待探测源放置在有源天线的设定探测距离位置，有源天线发送指定强度的信号源照射待探测源，获取待探测源反射的信号强度，设为第一测试强度；所述S1包括以下具体步骤：S11、获取生产有源天线的视场角和探测距离，在不设置干扰源的前提下选择设定探测距离位置，所述设定探测距离位置为在有源天线的视场角内二分之一个探测距离至一个探测距离之间的扇形区域内的任意一点，在所述设定探测距离位置安装待探测源；S12、有源天线发射端发射指定强度的信号源照射待探测源，所述指定强度的信号源为大于等于有源天线额定发射强度50%的信号源，信号源照射待探测源后反射信号被有源天线的接收端接收，获取反射信号的信号强度，将反射信号的信号强度设为第一测试强度；S2、将指定干扰频率和强度的干扰源放置在有源天线和待探测源之间的连线上移动，干扰源从有源天线移动至待探测源，获取干扰源从有源天线移动至待探测源过程中的待探测源反射的信号强度，设为第二测试信号强度序列；S21、获取指定干扰频率和强度的干扰源，获取有源天线和待探测源之间的连线，使干扰源在有源天线和待探测源之间移动，干扰源从有源天线移动至待探测源，将有源天线和待探测源之间的连线均分为若干连线段，干扰源每移动至连线段的中点位置，获取一次有源天线接收端接收的待探测源反射的信号强度；S22、直至干扰源移动至待探测源，待探测源获取与连线段相同个数的待探测源反射的信号强度，设为第二测试信号强度序列；S3、将获取的第一测试强度和第二测试信号强度序列代入抗干扰异常值计算策略中计算整体抗干扰异常值；所述S3的抗干扰异常值计算策略包括如下具体步骤：S31、获取得到的第一测试强度和第二测试信号强度序列，将第二测试信号强度序列代入平均值计算公式中计算第二测试信号强度序列的平均值，平均值计算公式为：，其中，n为连线段个数，为干扰源移动至第i个连线段的中点位置，获取的有源天线接收端接收的待探测源反射的信号强度；S32、将第二测试信号强度序列的平均值和第一测试强度代入第一抗干扰异常值计算公式中计算第一抗干扰异常值，第一抗干扰异常值计算公式为：，其中x为第一测试强度；S33、获取第一测试强度和第二测试信号强度序列代入第二抗干扰异常值计算公式中进行第二抗干扰异常值的计算，其中，第二抗干扰异常值计算公式为：，其中，为第i个连线段的中点位置至有源天线的距离数值；S34、将得到的第二抗干扰异常值和第一抗干扰异常值代入整体抗干扰异常值计算公式中计算整体抗干扰异常值，其中，整体抗干扰异常值计算公式为：，其中，为第一抗干扰异常值占比系数，为第二抗干扰异常值占比系数，exp为e的次数幂，，其中，；S4、将计算得到的整体抗干扰异常值与设定的抗干扰异常阈值进行对比，若计算得到的整体抗干扰异常值与设定的抗干扰异常阈值进行对比，若计算得到的整体抗干扰异常值大于等于设定的抗干扰异常阈值，则判断对应的有源天线抗干扰性能不合格，进行不合格提醒，否则判断对应的有源天线抗干扰性能合格，进行合格提醒。

全文数据：

权利要求：

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