申请/专利权人：新唐科技股份有限公司

申请日：2020-04-26

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN113030692B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：["20191209 TW 108144855"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2021.07.13#实质审查的生效;2021.06.25#公开

摘要：本发明提供一种测试系统和测试方法。上述测试方法的步骤包括，当在一测试机台执行一测试程序，以对一待测物进行一测试流程时，读取储存在一控制芯片的一第一存储器的待测物信息，以判断上述待测物是否符合上述待测物信息，其中上述控制芯片配置在一测试治具中，且上述测试治具安装在上述测试机台上；当上述待测物符合上述待测物信息时，开始进行上述测试流程；以及将对应上述测试流程的测试信息写入上述控制芯片的一第二存储器中。

主权项：1.一种测试方法，其特征在于，包括：当在一测试机台执行一测试程序，以对一待测物进行一测试流程时，读取储存在一控制芯片的一第一存储器的待测物信息，以判断所述待测物是否符合所述待测物信息，其中所述控制芯片配置在一测试治具中，且所述测试治具安装在所述测试机台上；所述待测物信息包括一公司名称、一产品名称和一治具编号；当所述待测物符合所述待测物信息时，开始进行所述测试流程；以及将对应所述测试流程的测试信息写入所述控制芯片的一第二存储器中；所述测试信息包括一测试时间、一测试流程名称和一测试编号；所述测试时间表示测试开始的时间，所述测试流程名称表示此次所进行的测试流程，所述测试编号表示所述待测物的货批编号。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 新唐科技股份有限公司 测试系统和测试方法

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